豪恩系列PCT高压加速老化测试设适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药、线路板，高低温湿热试验箱多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验，使用于在产品的设计阶段,用于快速暴露产品的缺陷和薄弱环节。测试其制品的耐厌性，气密性。测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引脚间因污染造成短路等。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间.

　　GB/T 2423.40-2013环境试验第2部分：试验方法 试验Cx：未饱和高压蒸汽恒定湿热

　　4.试验前排冷空气;试验中排冷空气设计(试验桶内空气排出)提高压力稳定性、再现性；

　　a.圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可防止试验中结露滴水设计.

　　c.精密设计,气密性良好,耗水量少,每次加水可连续 Hrs 运转.

　　d.专有型packing设计使门与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命.

　　b.整机配超压保护，超温保护，一键泄压，手动泄压多重安全保障装置，保证用户的使用和安全。

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