很长，像传统光源采用2h45min开、15min关的循环测试到寿命终了，对LED产品的测量显然不现实。因此有必要对LED产品采用加速老化寿命试验[1]，同时，也应当测试LED的热学特性、环境耐候性、电磁兼容抗扰度等与寿命和可靠性密切相关的性能，以综合分析LED的寿命。

　　LED产品制造中的每一个元件和环节都会对其可靠性和寿命产生影响，例如，LED结和基板的虚焊、LED荧光粉的热猝灭和退化、封装材料的退化以及驱动器的失效等，后退化的可能才是半导体(PN结)本身。这些因素导致LED产品失效(退化)的方式也不尽相同，一般可分为缓变退化(gradual degradation)和瞬变退化(abrupt degradation)。

　　流明维持率下降，即光衰，一般以初始光通量为，当LED产品的流明维持率下降到初始值的70%或50%时，认为LED失效，流明维持寿命相应记为L50或L70;

　　颜色漂移，受到荧光粉或封装材料的变化，LED的颜色会在寿命期间内发生漂移，该漂移应在指定范围以内(如△uv0.007)，超过范围则视为LED失效;

　　热阻变化和其它热特性参数曲线，热特性与寿命息息相关，对热特性的测量和分析有助于找出LED可靠性的薄弱环节;

　　LED的瞬变退化(失效)即LED的光输出突然降为0，其主要退化包括：抗电磁干扰能力：静电放电、雷击浪涌、快速群脉冲、周波跌落;高低温冲击耐受性特性;盐雾、耐湿、振动等。

　　针对LED的主要缓变退化，国际上已有相关标准相继发布，以是北美体系和国际照明委员会(IEC)体系为典型，我国标准则基本融合了这两个体系。

　　北美体系和IEC系统在对LED产品的寿命要求和试验方法方面都有所区别，但针对于LED灯具寿命的评估，二者都提出直接老化测试灯具，或根据封装LED、LED模块等的老化试验进行推算。

　　如表1所示，Energy Star将对LED灯具寿命的试验方法分为选项1和选项2，其中，选项1是通过测试光源推导灯具的寿命;而选项2仅适用于光源和灯具不可分的一体化灯具，直接测试灯具的光通维持率。选项1，L70(6k)的表示是指，利用6000h(6K)的老化测试推导出的流明维持寿命L70的时间。

　　老化温度：指定点壳温(Ts)为55℃，85℃和第三个指定温度，三个温度覆盖灯具中LED光源的Ts温度。

　　样本数量要求及其与外推寿命时间的关系：20个以上样品，外推寿命为老化时间的6倍;10-19个，外推寿命为老化时间的5.5倍;

　　数据记录：每个LED的光通维持、中间值、标准偏差、小和光通维持率值;

　　IEC体系中用Lx Fy 来表征LED产品的寿命，其中，Lx表示光通量维持率，如L70;Fy表示失效率，包括缓变失效率By和瞬变失效率Cy。例如：L70F50为30000h是指：50%的模块在30000h后的光通维持率在70%以下。

　　对于普通照明用的白光LED产品，IEC并不强调对声称的寿命进行验证，而是对限定时间的流明维持率进行分级。

　　IEC 中对LED模块和灯具的光通维持率测试如表2所示。特别注意的是IEC体系中，LED模块或灯具的瞬变失效和缓变失效是要在终的Fy指标上体现出来的。对于一组LED模块，按试验样品20个计算，若声称F50，则至少n-2个模块通过;若声称F10，则n个模块全部通过试验。

　　老化试验中的温度也特别值得关注。LED模块老化应在外壳指定点为Tp温度下老化，相当于北美体系中的Ts;而灯具则在环境温度Tq下考察其性能，并且应确保在声称的Tq max下， 模块温度Tp不会超过。

　　对于加速老化和寿命的测试，无论采用北美体系或IEC体系，其硬件测量装置基本相同，一般主要包括恒温试验箱、多路电源、多路温度巡检仪等。目前国内外对于LED加速老化和寿命测试系统的研制也十分关注。由于LED光源或灯具的光色性能需在室温(25℃1℃)条件下测量，因此国外典型设一般需要和积分球光谱仪系统结合起来，在LED老化到一定时间后冷却恒温箱内温度，并将被测LED取出到积分球系统中进行光色测量。该操作过程很繁琐，若测试间隔时间较短，则整个老化测试十分费时费力，而当测试间隔较长是，则不能及时反映LED光色参数的变化过程，被测LED的失效时间的记录误差较大。
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