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改良后由生产部再作高高低温冲击试验箱低温
发布者:无锡玛瑞特科技有限公司 发布时间:2021/1/26 10:14:50 点击次数:273 关闭

  高低温试验规程_电子/电路_工程科技_专业资料。高低温试验规程 1、目的: MPIEOP-12A 版本: V1.0 第 1 页 共 2 页 检查产品在高低温冲击下潜在的不良风险,检查产品对高低温冲击的耐受度。 2、范围: 适用于本的 PCB

  高低温试验规程 1、目的: MPIEOP-12A 版本: V1.0 第 1 页 共 2 页 检查产品在高低温冲击下潜在的不良风险,检查产品对高低温冲击的耐受度。 2、范围: 适用于本的 PCBA 半成品和成品。 3、定义:无。 4、职责: 4.1 生产部:负责设的使用和维护及保养。 4.2PIE 部:负责设的维修。 5、工作程序(要求) : 5.1 测试准。 从生产线测试合格的需要做高低温试验的半成品或成品从合格抽取出合格产品,部分 PCBA 做全部测试。 5.2 高低温试验箱设置。 5.2.1 设置高温测试箱的温度为 60 度。 5.2.2 设置低温测试箱的温度为-10 度。 5.3 循环测试。 5.3.1 将准好的产品放入高温箱。 5.3.2 将做完高温测试的产品放入低温箱。 5.3.3 待高温箱温度升回到 60 度后开始计时 5.3.4 计时十分钟后取出产品。 5.3.5 将测试完高温的的产品放入低温箱 5.3.6 待低温箱温度降回到-10 度后开始计时。 5.2.7 计时十分钟后取出产品,放入高测试温箱。 5.4 重复 5.2 和 5.3 两次。 5.5 三个循环完成后将产品取出,进行相关的外观和功能检测。 5.6 如果温度试验中有异常情况,则记录高低温测试记录并将不良发 PIE 部分析改良, 改良后由生产部再作高低温试验。 5.7 流程图: 制 订 审 核 批 准 高低温试验规程 MPIEOP-12A 版本: V1.0 第 2 页 共 2 页 6、相关文件: 《高低温测试记录》 制 订 审 核 批 准
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