本标准规定了低温试验箱（简称“试验箱”）相关的术语和定义、使用条件、技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、贮存。

　　本标准适用于对电工电子、电子及其他产品、零部件、材料进行低温试验的试验箱。

　　下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款，凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，这些文件的版本。凡是不注日期的引用文件，其版本使用于本标准。

　　本部分提供了由低温、底气压和湿热组成的标准环境试验程序。首先低温和低气压结合在一起，其次升温，然后与湿热条件结合在一起，本试验应用了试验A和试验M，虽然未完全按照试验D引人湿度。但用：“Z/AMD”来表示本试验的恰当和提示性。

　　本试验用于飞行器所使用的元器件和设，特别是在非加热和非增压部位的元器件和设。

　　本试验模拟飞行器升降期间，未增压和温度未控制的部位所遇到的环境条件，装有弹性密封的非散热元器件（例如带插头座的连接器）变冷时，会使密封件硬化和材料收缩，当周围气压降低时这种密封可能损坏，造成内压的损失。

　　本标准适用于非散热和散热的电工电子产品（包括元件、设及其他产品）的设试验。

　　2.1、 本标准仅限于用来考核或确定电工、电子产品在低温环境条件下贮存和（或）使用的适应性，而不能用来评价试验样品在温度变化期间的耐抗性和工作能力，这时应当采用GB 2423.22《电工电子产品基本环境试验规程 试验N：温度变化试验方法》。

　　1.1 、本标准规定了高低温低气压（含低气压、低温低气压和高温低气压）试验设在进行周期检定时的检定项目、检定用主要仪器及要求、检定条件、测量点数量及布放位置、检定步骤、数据处理及检定结果等内容。

　　1.2、 本标准适用于对GB 2423.21-91《电工电子产品基本环境试验规程 试验M：低气压试验方法》、GB/T 2423.25-92《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM：低温/低气压综合试验方法》和GB/T 2423.26-92《电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BM：高温/低气压综合试验方法》所用试验设的周期检定。
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